XIPE: the X-ray imaging polarimetry explorer
Soffitta, P.; Barcons, X.; Bellazzini, R.; Braga, J.; Costa, E.; Fraser, G. W.; Gburek, S.; Huovelin, J.; Matt, G.; Pearce, M.; Poutanen, J.; Reglero, V.; Santangelo, A.; Sunyaev, R. A.; Tagliaferri, G.; Weisskopf, M.; Aloisio, R.; Amato, E.; Attiná, P.; Axelsson, M.; Baldini, L.; Basso, S.; Bianchi, S.; Blasi, P.; Bregeon, J.; Brez, A.; Bucciantini, N.; Burderi, L.; Burwitz, V.; Casella, P.; Churazov, E.; Civitani, M.; Covino, S.; Curado da Silva, R. M.; Cusumano, G.; Dadina, M.; D'Amico, F.; Rosa, A. D.; Cosimo, S. D.; Persio, G. D.; Salvo, T. D.; Dovciak, M.; Elsner, R.; Eyles, C. J.; Fabian, A. C.; Fabiani, S.; Feng, H.; Giarrusso, S.; Goosmann, R. W.; Grandi, P.; Grosso, N.; Israel, G.; Jackson, M.; Kaaret, P.; Karas, V.; Kuss, M.; Lai, D.; Rosa, G. L.; Larsson, J.; Larsson, S.; Latronico, L.; Maggio, A.; Maia, J.; Marin, F.; Massai, M. M.; Mineo, T.; Minuti, M.; Moretti, E.; Muleri, F.; O'Dell, S. L.; Pareschi, G.; Peres, G.; Pesce, M.; Petrucci, P.-O.; Pinchera, M.; Porquet, D.; Ramsey, B.; Rea, N.; Reale, F.; Rodrigo, J. M.; RózaDska, A.; Rubini, A.; Rudawy, P.; Ryde, F.; Salvati, M.; Santiago Junior, V. A.; Sazonov, S.; Sgró, C.; Silver, E.; Spandre, G.; Spiga, D.; Stella, L.; Tamagawa, T.; Tamborra, F.; Tavecchio, F.; Dias, T. T.; Adelsberg, M.; Wu, K.; Zane, S.
Artigo em Revista Científica - Qualis: 8.6 - 2013 - Acesso restrito - Como citar? - BibTeX - acessar - Atualizar - Similaridade: 1.00 |
|